偏振態(tài)測量儀-上海昊量光電設(shè)備有限公司

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激光測量設(shè)備

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深紫外斯托克斯偏振態(tài)測量儀
深紫外斯托克斯偏振態(tài)測量儀：在紫外波長（180nm-200nm）范圍內(nèi)基于雙PEM（光彈調(diào)制器）的偏振測量系統(tǒng)為量化光的斯托克斯參數(shù)提供精度與靈敏度。該科研級高精度stokes測量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)每秒超100組標(biāo)準(zhǔn)化斯托克斯參數(shù)集獲取。一次測量生成4個斯托克斯參數(shù)。該系統(tǒng)在光學(xué)元件表征、光學(xué)系統(tǒng)光束輸出表征、天文學(xué)、光纖制造、光源和激光質(zhì)量控制等方面具有廣泛的應(yīng)用。

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光纖偏振態(tài)測量儀
光纖偏振態(tài)測量儀：SK010PA是一款通用型偏振分析儀，該偏振分析儀通常用于對自由空間光路和保偏光纖光路進(jìn)行偏振分析與測試?？蓪?shí)時對四個斯托克斯參數(shù)進(jìn)行測量以獲取光路偏振狀態(tài)（SOP），并顯示在龐加萊球面上。在保偏光纖的評估和偏振對準(zhǔn)中具有巨大優(yōu)勢。設(shè)備結(jié)構(gòu)緊湊，即插即用，可輕松集成到現(xiàn)有客制系統(tǒng)中進(jìn)行快速校準(zhǔn)和測量，軟件操作簡單、功能強(qiáng)大。

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光頻梳偏頻測量模塊（f-2f自參考）
昊量光電新推出光頻梳偏頻測量模塊（f-2f自參考），為測量載波包絡(luò)偏移頻率(fceo)的f-2f自參考鎖定過程提供了一種緊湊且方便的解決方案。

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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度測量儀
原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學(xué)常數(shù)）的實(shí)時光學(xué)測量儀。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作，因?yàn)樗褂瞄T控?cái)?shù)據(jù)采集。

型號：MPROBE 50 INSITU 廠商性質(zhì)：代理商
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MPROBE 40 MSP微小區(qū)域薄膜厚度測量儀
微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方。顯微分光光度計(jì) (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結(jié)合顯微鏡，用于小點(diǎn)薄膜厚度測量。

型號：MPROBE 40 MSP 廠商性質(zhì)：代理商
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小尺寸寬帶偏振態(tài)測量儀
PolSNAP是一款緊湊的偏振測量儀，來自Hinds Instruments;公司，數(shù)據(jù)采集速率為每秒2000個樣本，從而得以每秒快速確定4個Stokes矢量。光學(xué)系統(tǒng)，驅(qū)動電子和檢測電子都集成在一起，因此它很容易進(jìn)入你的光學(xué)設(shè)置，這樣你就可以確定你的光源或光學(xué)的偏振，對激光進(jìn)行質(zhì)量控制，或確定你的光學(xué)的偏振保持能力。小尺寸寬帶偏振態(tài)測量儀

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通訊波段偏振消光比測量儀
該消光比測試儀PEM-330采用技術(shù)制造，可實(shí)現(xiàn)1260～1630nm全波段測量。只需更換測試光源，無需購買多臺消光比測試儀，即可實(shí)現(xiàn)不同波段器件的精確測量，一機(jī)多用大大降低了儀器購置成本。該消光比測試儀具有*的消光比測試精度、偏振角測試精度，能夠測量高達(dá)50dB的消光比。通訊波段偏振消光比測量儀

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超寬帶偏振態(tài)測量儀
超寬帶偏振態(tài)測量儀結(jié)合了Meadowlark Optics公司*的液晶可變相位延遲器技術(shù)和偏振技術(shù)，具有超寬帶、高精度及無運(yùn)動部件等特點(diǎn)。

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